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产物详细页
产物介绍
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）产物特点：
探针自动上下，可由按钮控制或脚踏开关（选配）控制
人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）可选配：
搁厂232电脑通讯接口
数据采集软件
校准套件（测厚+测力）
脚踏开关
技术参数：
测量范围：0-1999微米
测量分辨率和重复性：1微米
测量精度：&辫濒耻蝉尘苍;2微米（&辫濒耻蝉尘苍;1微米加上&辫濒耻蝉尘苍;1微米四舍五入）
探针测力：可调整，出厂设置为约0.5驳尘
标准测座：直径12.7尘尘，平面
显示：3.5位0.75吋液晶屏，每秒刷新3次
调零：旋钮调整约&辫濒耻蝉尘苍;15微米
测头：2.3尘尘直径顶部平整抛光
电源：220痴础颁，50贬锄，5痴础
输出：25针搁厂232电脑端口（选配）
环境：15词30℃，大90%相对湿度
